盛会高光 | 振电科技BCEIA 2025之旅圆满收官

近日，北京分析测试学术报告会暨展览会（BCEIA2025）在北京中国国际展览中心（顺义馆）盛大启幕，适逢BCEIA创办40周年，本届大会以“辉煌四十载 再谱新篇章”为主题，呈现一场高水平、高规格的国际盛会。开幕式上，中国分析测试协会隆重颁发“中国分析测试协会特别贡献奖”，江桂斌院士发表主旨报告，回顾分析科学的发展成就并展望未来创新方向。美国《Analytical Chemistry》主编Jonathan Sweedler教授、北京大学谢晓亮院士、鄂维南院士等重量级专家，围绕生命科学、单细胞研究、人工智能与大数据等前沿话题带来精彩分享。

展会期间，“光谱与成像分析”论坛备受关注，振电科技CEO王璞围绕“Applications of Nonlinear Microscopic Optical Imaging Techniques in Life Sciences”主题进行技术分享，详细阐述相干拉曼技术在组织成像中的原理、优势和应用实例，展现该技术在特定生物分子检测和组织微结构成像中的巨大潜力。

振电科技携新一代多模态非线性光学显微成像系统UltraView MK-Ⅲ在展会惊艳亮相，该系统具备快速定标、全谱多模态采集等功能，为科研与产业应用提供高效、智能的技术支撑。同时，振电科技还展出了智能成像引导激光显微切割系统、宽禁带半导体双光子发光检测系统和瞬态吸收显微成像系统，这些展品凭借高精度、高分辨率以及智能化操作，为生物医学研究、材料科学和化学分析等领域带来全新的解决方案。BCEIA2025不仅是学术交流的盛会，更是技术创新与产业合作的桥梁。振电科技借助这一平台，向行业展示其在非线性光学成像技术领域的深厚积累和创新能力，期待与更多科研机构和企业携手，推动分析测试技术迈向新高度。